Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Tomáš Debnár, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková
Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Debnár Tomáš ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 76-81
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka