The influence of repetitive UIS on electrical properties of advanced automotive power transistors / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 20, No. 1 (2022), s. 86-94
degradation DLTS repetitive avalanching repetitive unclamped inductive switching TCAD
http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/4120
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu