Study of the defect distribution in power SiC-MOSFET before and after applied electrical stress / aut. Ľubica Stuchlíková, Matej Matuš, Darko Činčurak, Juraj Marek, Peter Benko, Aleš Chvála
Stuchlíková Ľubica ; 033000  Matuš Matej ; 033000 Činčurak Darko ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 7-10
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966791
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka