Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou
Kmeť Adam  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030 Kováč Peter (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
FEI ; . - 50 s
Mikroelektronika MOS štruktúry elektrofyzikálne vlastnosti izolačné vrstvy
diplomová práca