An Automatic Measurement System with Spreading Resistance and PCIV Profiling for Characterization of Semiconductors
Kinder Rudolf ; E030  Hulényi Ladislav ; E210 Hudec Ladislav ; 070400 Chmel T. Kuruc Marián
Journal of Electrical Engineering . Vol. 58, No. 3 (2007), s.165-168
rozložená rezistencia PCIV SUPREM Si
článok z periodika
ADF - 12/Vedecké práce v domácich nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu