Košík

  Odznačiť vybrané:   0
  1. FT IR spectroscopy of silicon oxide layers prepared with perchloric acid
    Kopáni Martin  Mikula Milan ; C9160 Takahashi Masao Rusnák Jaroslav Pinčík Emil
    Applied Surface Science . Vol. 269 (2013), s.106-109
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.