A new I-DDT test approach and its efficiency in covering resistive opens in SRAM arrays
Gyepes Gábor ; E030  Stopjaková Viera ; E030 Arbet Daniel ; E030 Majer Libor ; E030 Brenkuš Juraj ; E030
Microprocessors and microsystems . Vol. 38 (2014), no. 5, s. 350-367
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu