Weibullova analýza údajov v spoľahlivosti a údržbe
Miterková Mária ; M  Nánási Tibor (škol.) ; M2000
Trnava : STU v Bratislave MTF UVSM, 2014
MTF ; 05.06.2014 ; 195 . - 76s CD ROM
výrobné zariadenia a systémy Production Devices and Systems distribution failure lifetime test test graph porucha životnosť skúška graf rozdelenie parameter
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=103517
diplomová práca