Košík

  Odznačiť vybrané:   0
  1. 2000 IEEE International reliability physics symposium procedings : 38th annual. San Jose, California, USA.10.- 13. April 2000
    Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000 . - 455 s
    ISBN 0-7803-5860-0
    spoľahlivosť fyzika tuhých látok fyzika polovodičov polovodiče polovodičové súčiastky dielektriká
    zborník
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0001
    kniha

    kniha