SIA. Surface and interface analysis : Konf. ECASIA 93, Catania, Italia, 4.- 8. Oct. 1993
1.vyd.
Chichester : John Wiley & Sons, 1994 . - 619 s
ISSN 0142-2421
fyzika povrchov fyzika tenkých vrstiev elektrónová spektroskopia fyzika tuhých látok fyzika polovodičov Mikroelektronika
zborník