Košík

  Odznačiť vybrané:   0

  1.  

    Skúmanie rekombinačno-generačných procesov na rozhraní Si-SiO2 pomocou diód riadených hradlom : Habil.práca : Obh. 26.09.1978 / [aut.] Hulényi,Ladislav, Ing. CSc
    Hulényi Ladislav ; E210 
    Bratislava : SVŠT v Bratislave EF, 1978 . - 112 s
    habilitačná práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI2000
    kniha

    kniha


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.

Prijať všetkoNastavenieOdmietnuť všetko