Názvové údaje : Analysis of the current transients by monitoring lateral current evolution in AlGaN/GaN structure / aut. Martin Florovič, Robert Szobolovszký, Jaroslav Kováč, Jaroslava Škriniarová, Peter Kordoš Variant(y) hesla : \q12*stu_us_auth*1 stu45730 \q \q1013 stu_us_auth*stu45730 \d Florovič Martin \q ; 033000  %continue : \q12*stu_us_auth*1 stu120483 \q \q1013 stu_us_auth*stu120483 \d Szobolovszký Robert \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu9825 \q \q1013 stu_us_auth*stu9825 \d Kováč Jaroslav \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu9832 \q \q1013 stu_us_auth*stu9832 \d Škriniarová Jaroslava \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu5669 \q \q1013 stu_us_auth*stu5669 \d Kordoš Peter \q ; 033000 In : \q12**1 0016596 \q %continue : ADEPT 2016 : %continue : . S. 253-256 Predmet : \q12*stu_us_auth*1 stus18930 \q \q1013 stu_us_auth*stus18930 \d GaN \q \q12*stu_us_auth*1 0017171 \q \q1013 stu_us_auth*0017171 \d AlGaN \q \q12*stu_us_auth*1 0006666 \q \q1013 stu_us_auth*0006666 \d ohmic contacts \q \q12*stu_us_auth*1 0017172 \q \q1013 stu_us_auth*0017172 \d current transients \q \q12*stu_us_auth*1 0017173 \q \q1013 stu_us_auth*0017173 \d trapping/detrapping \q Druh dok. : článok zo zborníka Kategória : AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 : V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka