Názvové údaje : On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Daniel Haško, František Uherek Variant(y) hesla : \q12*stu_us_auth*1 stu80446 \q \q1013 stu_us_auth*stu80446 \d Priesol Juraj \q ; 033000  %continue : \q12*stu_us_auth*1 stu9834 \q \q1013 stu_us_auth*stu9834 \d Šatka Alexander \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu66060 \q \q1013 stu_us_auth*stu66060 \d Haško Daniel \q \q12*stu_us_auth*1 stu1482 \q \q1013 stu_us_auth*stu1482 \d Uherek František \q ; 033000 In : \q12**1 0100241 \q %continue : Fotonika 2022 : %continue : . S. 37-40 Predmet : \q12*stu_us_auth*1 0108497 \q \q1013 stu_us_auth*0108497 \d Cross-section \q \q12*stu_us_auth*1 0108498 \q \q1013 stu_us_auth*0108498 \d mechanical polishing \q \q12*stu_us_auth*1 0108499 \q \q1013 stu_us_auth*0108499 \d nano-polishing \q \q12*stu_us_auth*1 stus21053 \q \q1013 stu_us_auth*stus21053 \d grinding \q \q12*stu_us_auth*1 0108500 \q \q1013 stu_us_auth*0108500 \d vertical GaN \q \q12*stu_us_auth*1 stus2501 \q \q1013 stu_us_auth*stus2501 \d EBIC \q Druh dok. : článok zo zborníka Kategória : AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 : V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka