Názvové údaje : How to generate high quality tests for digital systems Variant(y) hesla : \q12*stu_us_auth*1 stu133318 \q \q1013 stu_us_auth*stu133318 \d Ubar R. \q  %continue : \q12*stu_us_auth*1 stu133319 \q \q1013 stu_us_auth*stu133319 \d Aarna M. \q \q12*stu_us_auth*1 stu133320 \q \q1013 stu_us_auth*stu133320 \d Kruus H. \q \q12*stu_us_auth*1 stu133309 \q \q1013 stu_us_auth*stu133309 \d Raik J. \q In : \q12**1 stu245160 \q %continue : 2004 International semiconductor conference : %continue : . s.459-462 Druh dok. : článok zo zborníka Odkazy : \q2479**1 stu_us_cat*stu282257*xcla \q (1) - článok