Vytlačiť
1. Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Názvové údaje : Preparation and characterization of thin films using FIB technique
Variant(y) hesla : \q12*stu_us_auth*1 0040842 \q \q1013 stu_us_auth*0040842 \d Došenović Đorđe \q ; 036000
%continue : \q12*stu_us_auth*1 stu8576 \q \q1013 stu_us_auth*stu8576 \d Ballo Peter \q ; 036000 (škol.)
Vyd.údaje : 2019
Fakulta : FEI ; 02.07.2019 ; 5.2.48. fyzikálne inžinierstvo ; B-JFI
%continue : . - 66 s.
Predmet : \q1013 \d TEM \q \q1013 \d fokusovaný iónový zväzok \q \q1013 \d lamela \q \q1013 \d InAlN \q \q1013 \d EDS \q \q1013 \d focused ion beam \q \q1013 \d lamella \q \q1013 \d TEM \q \q1013 \d EDS \q \q1013 \d InAlN \q
URL : http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143238
Druh dok. : bakalárska práca