Výsledky vyhľadávania
Stránka bola pridaná do košíka
- Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / aut. Patrik Echlin
Echlin Patrik
New York : Springer, 2009 . - 330 s.
ISBN 978-0-387-85730-5
elektrónová mikroskopia röntgenová mikroanalýza
príručkaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné MTF 0 0 1 0