Modeling and simulation in measurement / aut. Oľga Čičáková, Eva Králiková
Čičáková Oľga ; 034000  Králiková Eva ; 034000
IN-TECH 2015 : . S. 343-346
transient phenomena oscilloscope spectrum analyzer local analyzer LabVIEW LabVIEW modeling simulation
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka