Výsledky vyhľadávania
- Perimeter driven transport in the p-GaN gate as a limiting factor for gate reliability / aut. Steve Stoffels, Niels Posthuma, Stefaan Decoutere, Benoit Bakeroot, Andrea N Tallarico, Enrico C Sangiorgi, Claudio Fiegna, J Zheng, X Ma, Matteo Borga, Elena Fabris, Matteo Meneghini, Enrico Zanoni, Gaudenzio Meneghesso, Juraj Priesol, Alexander Šatka
Stoffels Steve Posthuma Niels Decoutere Stefaan Bakeroot Benoit Tallarico Andrea N. Sangiorgi Enrico C. Fiegna Claudio Zheng J. Ma X. Borga Matteo Fabris Elena Meneghini Matteo Zanoni Enrico Meneghesso Gaudenzio Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium : . Art. no. 8720411 [10] s.
p-GaN gate sidewall TDDB gate leakage lifetime EBIC
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- 3-D Device Electrothermal Simulation for Analysis of Multifinger Power HEMTs / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka, Juraj Priesol, Patrik Príbytný, Steve Stoffels, Niels Posthuma, Stefaan Decoutere, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Stoffels Steve Posthuma Niels Decoutere Stefaan Donoval Daniel ; 033000
GaN Marathon 2.0 : . S. 44-45
3-D electrothermal simulation metallization layout power multifinger HEMT
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Methodology and more accurate electrothermal model for fast simulation of power HEMTs / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Ľuboš Černaj, Patrik Príbytný, Alexander Šatka, Steve Stoffels, Niels Posthuma, Stefaan Decoutere, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Černaj Ľuboš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Stoffels Steve Posthuma Niels Decoutere Stefaan Donoval Daniel ; 033000
PCIM Europe 2018 : . CD-ROM, [8] s.
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Analysis of multifinger power HEMTs supported by effective 3-D device electrothermal simulation / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Patrik Príbytný, Alexander Šatka, Steve Stoffels, Niels Posthuma, Stefaan Decoutere, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Stoffels Steve Posthuma Niels Decoutere Stefaan Donoval Daniel ; 033000
Microelectronics Reliability . Vol. 78, (2017), s. 148-155
3-D electrothermal simulation power multifinger HEMT metallization layout TCAD modeling
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271417304031
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Electrothermal analysis of power multifinger HEMTs supported by advanced 3-D device simulation / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Patrik Príbytný, Alexander Šatka, Daniel Donoval, Steve Stoffels, Niels Posthuma, Stefaan Decoutere
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Donoval Daniel ; 033000 Stoffels Steve Posthuma Niels Decoutere Stefaan
SISPAD 2017 : . S. 253-256
3-D electrothermal simulation power multifinger HEMT metallization layout
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok