Výsledky vyhľadávania
- Structural analysis of sputtered Sc(x)Al(1-x)N layers for sensor / aut. Bernd Hähnlein, Tim Hofmann, Katja Tonisch, Jörg Pezoldt, Jaroslav jr Kováč, Stefan Krischok
Hähnlein Bernd Hofmann Tim Tonisch Katja Pezoldt Jörg Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Krischok Stefan
Materials Science and Smart Materials : . S. 13-18
scandium aluminum nitride XPS XRD FTIR Raman magnetoelectric sensor
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Size effect of the silicon carbide Young's modulus / aut. Bernd Hähnlein, Jaroslav jr Kováč, Jörg Pezoldt
Hähnlein Bernd Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Pezoldt Jörg
Physica Status Solidi (A)-Applications and Materials Science . Vol. 214, Iss. 4 (2017), Art. no 1600390 [9] s.
microelectromechnical systems SiC size effect Young´s modulus
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/pssa.201600390/full
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok