OLED structures investigation by SIMS / aut. Andrej Vincze, Martin Weis, František Uherek
Vincze Andrej  Weis Martin ; 033000 Uherek František ; 033000
ADEPT 2018 : . S. 220-223
OLED I-V measurements SIMS depth profiles
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka