Výsledky vyhľadávania
- Analýza porúch v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
Kraus Juraj ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
FEI ; 09.06.2020 ; elektrotechnika ; I-EN . - 52 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1189F9BEC259&seo=CRZP-detail-kniha
diplomová práca - Optimalizácia hradlového dielektrika organických poľom riadených tranzistorov (OFET)
Kraus Juraj ; 033000 Weis Martin ; 033000 (škol.)
2018
FEI ; 03.07.2018 ; 5.2.13. elektronika ; B-ELN . - 34 s., CD-ROM
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=107513
bakalárska prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0