Measurement of noise characteristics of selected JFET devices / aut. Erik Tisovský, Alexander Šatka, Juraj Priesol
Tisovský Erik ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000
ELITECH´19 : . CD-ROM, [5] s.
spectrum analysis noise JFET
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka