Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers / aut. Arpád Kósa, Jakub Drobný, Jaroslav jr Kováč, M Badura, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková
Kósa Arpád ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Badura M. Sciana Beata Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2019 : . S. 175-178
Fe doped InP defect Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka