Výsledky vyhľadávania
- Impact of repetitive inductive switching on degradation of power SiC MOSFETs / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Pavol Špánik, Martin Jagelka, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Špánik Patrik Ján ; 030000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2020 : . S. 49-52
4H-SiC MOSFETs electrical parameters degradation hot carriers repetitive unclamped inductive switching
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Power SiC MOSFET under repetitive UIS conditions / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Ľuboš Černaj, Martin Donoval, Daniel Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Černaj Ľuboš ; 033000 Donoval Martin ; 039140 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2019 : . S. 179-182
4H-SiC MOSFETs electrical parameters degradation hot carriers repetitive unclamped inductive switching
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok