Design of test equipment for on-die hard switching and dynamic on-resistance measurement of GaN HEMTs / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Tomáš Debnár, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Daniel Donoval
Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Debnár Tomáš ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
Radioelektronika 2020 : . S. 201-204
GaN HEMT dynamic resistance hard switching on-die measurement
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka