Výsledky vyhľadávania
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
Činčurak Darko ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022
FEI ; 07.06.2022 ; elektrotechnika ; I-EN . - 59 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=4F55101800366CEF54FDC3DB109A&seo=CRZP-detail-kniha
diplomová práca
kniha
- Study of the defect distribution in power SiC-MOSFET before and after applied electrical stress / aut. Ľubica Stuchlíková, Matej Matuš, Darko Činčurak, Juraj Marek, Peter Benko, Aleš Chvála
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Činčurak Darko ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 7-10
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966791
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Annealing impact on the defect distribution in GaAsN/GaAs heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Arpád Kósa, Peter Benko, Matej Matuš, Darko Činčurak, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Beata Ściana
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Činčurak Darko ; 030000 Dawidowski Wojciech Radziewicz Damian Ściana Beata
ADEPT 2022 : . S. 250-253
Deep Level Transient Fourier Spectroscopy GaAsN annealing
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN
Činčurak Darko ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
FEI ; 02.07.2020 ; elektrotechnika ; B-ELN . - 50 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=8E0A01F6D74C9FCBC64FEE1E231C&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska prácakniha