Layered WS2 thin films prepared by sulfurization of sputtered W films / aut. Ivan Hotový, Lothar Spiess, Miroslav Mikolášek, Ivan Kostič, Michaela Sojková, Henry Romanus, Martin Hulman, Dalibor Búc, Vlastimil Řeháček
Hotový Ivan ; 033000  Spiess Lothar Mikolášek Miroslav ; 033000 Kostič Ivan Sojková Michaela Romanus Henry Hulman Martin Búc Dalibor Řeháček Vlastimil ; 033000
Applied Surface Science . Vol. 544, (2021), Art. no. 148719 [6] s.
Tungsten sulphide Crystal structure Nanorods XRD SEM Optical and electrical parameters
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220334784
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu