Výsledky vyhľadávania
- SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu