Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 2  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth 0107602^"
  1. SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
    charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
    https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  2. Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
    Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
    Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
    charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
    https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.