Výsledky vyhľadávania

  1. How to generate high quality tests for digital systems
    Ubar R.  Aarna M. Kruus H. Raik J.
    2004 International semiconductor conference : . s.459-462
    článok zo zborníka
    (1) - článok
    článok

    článok

  2. Internet-based collaborative test generation with MOSCITO
    Schneider A.  Ivask E. Mikloš Peter Raik J. Diener K.-H Ubar R. Cibáková T. Gramatová Elena ; 070400
    DATE'02 : . s.221-226
    digitálny obvod generovanie testov internetové technológie
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  3. Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
    Cibáková T.  Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
    defekty digitálny obvod generovanie testov
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  4. Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
    Blyzniuk M.  Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
    digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok