Výsledky vyhľadávania
- Interfacial reactions and critical current density of Cu-sheathed Cu-doped MgB2 wire with Ti diffusion barrier / aut. N Srivastava, Sharad Mehrotra, Marek Búran, I Husek, D Sharma, Pavol Kováč, S Santra
Srivastava N. Mehrotra Sharad Búran Marek ; 036000 Husek I. Sharma D. Kováč Pavol Santra S.
Journal of Alloys and Compounds . Vol. 966, (2023), Art. no. 171657 [11] s.
resistivity Critical current Interfacial reaction zone annealing diffusion
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0925838823029602
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
článok
- Effect of wire diameter on structure and electrical properties of (Al + Al2O3)-sheathed MgB2 with Nb barrier / aut. N Srivastava, Sharad Mehrotra, D Sharma, Shalini, Marek Búran, I Husek, Arunesh Goswami, Pavol Kováč, S Santra
Srivastava N. Mehrotra Sharad Sharma D. Shalini Búran Marek ; 036000 Husek I. Goswami Arunesh Kováč Pavol Santra S.
Ceramics International . Vol. 49, iss. 22 (2023), s. 34627-34637
IMD process Interfacial reaction zone Free energy Superconducting properties Critical current
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0272884223023672
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Proceedings of the 2001 ACM SIGMOD International Conference on Management of Data Santa Barbara, California May 21-24, 2001
Sellis Timos (ed.) Mehrotra Sharad
New York : ACM, 2001 . - 630 s
ISBN 1-58113-332-4
zborník (príspevkov)Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FIIT 1 0 0 0 
kniha