Výsledky vyhľadávania
- Meranie multivrstvových štruktúr pre mikroelektroniku metódou hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov : Dipl.práca
Gábor Zoltán Fesič Vladimír (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 1999
FEI ; . - 49 s
elektronika
diplomová práca