Výsledky vyhľadávania
- Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
Vu Viet Hoang ; 033000 Benko Peter ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
FEI ; Dátum obhajoby : 09.06.2020 ; Študijný odbor : elektrotechnika ; Študijný program : I-EN . - 70 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
diplomová práca
kniha
- Edukačná hra "Postav si svoj počítač"
Ďurfina Jaroslav ; 035000 Benko Peter ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
FEI ; Dátum obhajoby : 01.07.2020 ; Študijný odbor : informatika ; Študijný program : B-API . - 58 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=ResultFormChild000231E3&seo=CRZP-Zoznam-z%C3%A1znamov
bakalárska prácakniha
- Deriving the exchange times for a model of trap-assisted tunnelling / aut. Juraj Racko, Miroslav Mikolášek, Magdaléna Kadlečíková, Aleš Chvála
Racko Juraj Mikolášek Miroslav ; 033000 Kadlečíková Magdaléna ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
Journal of Electrical Engineering : . Vol. 71, No. 1 (2020), s. 31-36
trap-assisted tunnelling capture and emission probability exchange times
https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/1/article-p31.xml?language=de
článok z periodika
ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
článok
- ŠVOČ 2020 (elektronický zdroj) : Zborník vybraných prác
Benko Peter ; 033000 (zost.) Miklovičová Eva ; 031000 (zost.) Zajac Pavol ; 035000 (rec.) Antal Eugen ; 035000 (rec.)
Bratislava : Vydavateľstvo Spektrum STU, 2020 . - CD-ROM, 167 s.
ISBN 978-80-227-5003-5
http://uef.fei.stuba.sk/web/SVOC2020.pdf
zborník
FAI - Redakčné a zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...)Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0 kniha
- Vertical current transport processes in MOS-HEMT heterostructures / aut. Juraj Racko, Tibor Lalinský, Miroslav Mikolášek, Peter Benko, Sebastian Thiele, Frank Schwierz, Juraj Breza
Racko Juraj Lalinský Tibor Mikolášek Miroslav ; 033000 Benko Peter ; 033000 Thiele Sebastian Schwierz Frank Breza Juraj ; 033000
Applied Surface Science . Vol. 527, (2020), Art. no. 146605 [8] s.
GaN AlGaN Heterostructures Vertical current
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220313623
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisochčlánok
- Study of emission and capture processes in AlGaN/GaN HEMTs for 5G / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav Kováč, Jaroslav jr Kováč
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
ADEPT 2020 : . S. 37-40
DLTS AlGaN/GaN HEMT defects
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- Investigation of electrically active defects in InAlGaN/GaN/SiC HEMT / aut. Jakub Vadovský, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
Vadovský Jakub ; 030000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2020 : . S. 179-182
HEMT DLTFS InAlGaN GTML FAT Schottky barrier
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- Study of emission and capture processes in advanced structures based on GaN / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 86-89
článok zo zborníka
AFF - Abstrakty pozvaných príspevkov z domácich konferenciíčlánok
- DLTS Study of Electrically Active Defects in InAlGaN/GaN HEMT Structures for 5G / aut. Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Matúš M, Jakub Drobný, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Matúš M. Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 103-104
článok zo zborníka
AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferenciíčlánok
- DLTS study of emission and capture processes in InAlGaN/GaN HEMT structures for 5G / aut. Michal Matúš, Jakub Drobný, Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
Matúš Matej Drobný Jakub ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
ASDAM 2020 : . S. 119-122
https://ieeexplore.ieee.org/document/9393839
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok