ŠVOČ 2023 : elektronický zdroj Zborník vybraných prác. 26. apríl 2023 / zost. Peter Benko ; zost. Stanislav Sojak ; rec. Milan Vojvoda, Tomáš Fabšič
Benko Peter ; 033000 (zost.)  Sojak Stanislav ; 036000 (zost.) Vojvoda Milan ; 035000 (rec.) Fabšič Tomáš ; 035000 (rec.)
Bratislava : Vydavateľstvo Spektrum STU, 2023 . - CD-ROM, 190 s.
ISBN 978-80-227-5307-4
zborník
FAI - Redakčné a zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...)
V1 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako celok
(20) - článok

Insight into the Quantum Well Investigation by Transient Spectroscopy Technique / aut. Ľubica Stuchlíková, Beata Ściana, Arpád Kósa, Matej Matuš, Peter Benko, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Martin Weis
Stuchlíková Ľubica ; 033000  Ściana Beata Kósa Arpád Matuš Matej ; 033000 Benko Peter ; 033000 Dawidowski Wojciech Radziewicz Damian Weis Martin ; 033000
ADEPT 2023 : . S. 55-58
transient spectroscopy InGaAsN/GaAs heterostructures QW defects
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka

Implementácia a overenie modulu sériovej zbernice I2C pomocou vybraného PLD obvodu
Roháč Juraj ; 033000  Benko Peter ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022
FEI ; 28.06.2022 ; elektrotechnika ; B-ELN . - 58 s., príl.

https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildESQAG&sid=85CE14C1EED0152B7638D79735B2&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska práca

Analysis of emission and capture processes in GaAsN p-i-n solar cell / aut. Arpád Kósa, Wojciech Dawidowski, Jakub Drobný, Matej Matuš, Peter Benko, Damian Radziewicz, Beata Ściana, Ľubica Stuchlíková
Kósa Arpád ; 033000  Dawidowski Wojciech Drobný Jakub ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Benko Peter ; 033000 Radziewicz Damian Ściana Beata Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 254-257
GaAsN DLTFS emission and capture processes
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka

Study of the defect distribution in power SiC-MOSFET before and after applied electrical stress / aut. Ľubica Stuchlíková, Matej Matuš, Darko Činčurak, Juraj Marek, Peter Benko, Aleš Chvála
Stuchlíková Ľubica ; 033000  Matuš Matej ; 033000 Činčurak Darko ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 7-10
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966791
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka