Výsledky vyhľadávania

  1. Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie výkonových integrovaných obvodov
    Jonášek Peter ; 033000  Benko Peter ; 033000 (škol.)
    2019
    FEI ; Dátum obhajoby : 11.06.2019 ; Študijný odbor : 5.2.13. elektronika ; Študijný program : I-EN . - 84 s., príl., CD-ROM

    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=144601
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0100
    kniha

    kniha

  2. DLTS study of electrically active defecta in power SiC MOSFET / aut. Juraj Marek, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    SURFINT - SREN VI : . S. 96-97
    článok zo zborníka
    AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
    článok

    článok

  3. Charakterizácia porúch v moderných prvkoch a báze nitridu gália / aut. Jakub Drobný, Martin Weis, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Weis Martin ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [8] s.
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  4. DLTFS study of GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer composition / aut. Jakub Drobný, Andrej Kopecký, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Kopecký Andrej ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 111-114
    DLTFS electrically active defect AlGaN/GaN/SiC HEMT structures
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  5. Defect distribution in metal-porous siliconsilicon structures / aut. Peter Benko, Ľubica Stuchlíková, Arpád Kósa, Jakub Drobný, Ladislav Harmatha, Miroslav Mikolášek, Martin Kopáni, Kentaro Imamura, Hikaru Kobayashi, Emil Pinčík
    Benko Peter ; 033000  Stuchlíková Ľubica ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Kopáni Martin Imamura Kentaro Kobayashi Hikaru Pinčík Emil
    ADEPT 2019 : . S. 135-138
    porous silicon black silicon defects DLTFS
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  6. Miesto edukačných hier v technickom vzdelávaní / aut. Ľubica Stuchlíková, Peter Benko, Filip Chymo, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jiří Hrbáček
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Benko Peter ; 033000 Chymo Filip ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Hrbáček Jiří
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [6] s.
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  7. Čierny kremík pre fotovoltické aplikácie / aut. Peter Benko, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Ladislav Harmatha, Miroslav Mikolášek, Erik Svitač, Ľubica Stuchlíková
    Benko Peter ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Svitač Erik ; 030000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [5] s.
    článok zo zborníka
    AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
    článok

    článok

  8. Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Peter Benko, Arpád Kósa, Miroslav Mikolášek, Aleš Chvála, Juraj Marek
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 223-226
    defect analysis DLTFS C-V Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  9. Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, Peter Benko, Aurel Škoda, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Vadovský Jakub Benko Peter ; 033000 Škoda Aurel Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    WOCSDICE 2019 : . [2] s.
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    článok

    článok

  10. Electrical and DLTS characterization of AlN buffers for GaN on Si technology / aut. Juraj Marek, Miroslav Mikolášek, Jakub Drobný, Ming Zhao, Steve Stoffels, Arpád Kósa, Peter Benko, Aleš Chvála, Benoit Bakeroot, Stefaan Decoutere, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Mikolášek Miroslav ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Zhao Ming Stoffels Steve Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Bakeroot Benoit Decoutere Stefaan Stuchlíková Ľubica ; 033000
    WOCSDICE 2019 : . [2] s.
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    článok

    článok