Výsledky vyhľadávania

  1. Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
    Vu Viet Hoang ; 033000  Benko Peter ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
    FEI ; Dátum obhajoby : 09.06.2020 ; Študijný odbor : elektrotechnika ; Študijný program : I-EN . - 70 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  2. Edukačná hra "Postav si svoj počítač"
    Ďurfina Jaroslav ; 035000  Benko Peter ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
    FEI ; Dátum obhajoby : 01.07.2020 ; Študijný odbor : informatika ; Študijný program : B-API . - 58 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=ResultFormChild000231E3&seo=CRZP-Zoznam-z%C3%A1znamov
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  3. Deriving the exchange times for a model of trap-assisted tunnelling / aut. Juraj Racko, Miroslav Mikolášek, Magdaléna Kadlečíková, Aleš Chvála
    Racko Juraj  Mikolášek Miroslav ; 033000 Kadlečíková Magdaléna ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
    Journal of Electrical Engineering : . Vol. 71, No. 1 (2020), s. 31-36
    trap-assisted tunnelling capture and emission probability exchange times
    https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/1/article-p31.xml?language=de
    článok z periodika
    ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    článok

    článok

  4. ŠVOČ 2020 (elektronický zdroj) : Zborník vybraných prác
    Benko Peter ; 033000 (zost.)  Miklovičová Eva ; 031000 (zost.) Zajac Pavol ; 035000 (rec.) Antal Eugen ; 035000 (rec.)
    Bratislava : Vydavateľstvo Spektrum STU, 2020 . - CD-ROM, 167 s.
    ISBN 978-80-227-5003-5
    http://uef.fei.stuba.sk/web/SVOC2020.pdf
    zborník
    FAI - Redakčné a zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...)
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0100
    kniha

    kniha

  5. Vertical current transport processes in MOS-HEMT heterostructures / aut. Juraj Racko, Tibor Lalinský, Miroslav Mikolášek, Peter Benko, Sebastian Thiele, Frank Schwierz, Juraj Breza
    Racko Juraj  Lalinský Tibor Mikolášek Miroslav ; 033000 Benko Peter ; 033000 Thiele Sebastian Schwierz Frank Breza Juraj ; 033000
    Applied Surface Science . Vol. 527, (2020), Art. no. 146605 [8] s.
    GaN AlGaN Heterostructures Vertical current
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220313623
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  6. Study of emission and capture processes in AlGaN/GaN HEMTs for 5G / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav Kováč, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    ADEPT 2020 : . S. 37-40
    DLTS AlGaN/GaN HEMT defects
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  7. Investigation of electrically active defects in InAlGaN/GaN/SiC HEMT / aut. Jakub Vadovský, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Vadovský Jakub ; 030000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2020 : . S. 179-182
    HEMT DLTFS InAlGaN GTML FAT Schottky barrier
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  8. Study of emission and capture processes in advanced structures based on GaN / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 86-89
    článok zo zborníka
    AFF - Abstrakty pozvaných príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  9. DLTS Study of Electrically Active Defects in InAlGaN/GaN HEMT Structures for 5G / aut. Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Matúš M, Jakub Drobný, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
    Vadovský Jakub ; 030000  Kósa Arpád ; 033000 Matúš M. Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 103-104
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  10. DLTS study of emission and capture processes in InAlGaN/GaN HEMT structures for 5G / aut. Michal Matúš, Jakub Drobný, Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Matúš Matej  Drobný Jakub ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ASDAM 2020 : . S. 119-122
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9393839
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok