Výsledky vyhľadávania

  1. Návrh a príprava TLP testovacieho pracoviska pre elektrostatické ochranné prvky
    Kobulnický Peter ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
    FEI ; Dátum obhajoby : 09.06.2020 ; Študijný odbor : elektrotechnika ; Študijný program : I-EN . - 56 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1D8DFEBEC259&seo=CRZP-detail-kniha
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  2. Simulácia a modelovanie elektrotepelných vlastností výkonového DMOS tranzistora
    Potoma Peter ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
    FEI ; Dátum obhajoby : 09.06.2020 ; Študijný odbor : elektrotechnika ; Študijný program : I-EN . - 59 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=C67292DEA65D7A08E022FCCAC3F9&seo=CRZP-detail-kniha
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  3. Edukačná hra o výkonových tranzistoroch
    Marochok Stanislav ; 035000  Chvála Aleš ; 033000 (škol.)
    Bratislava :
    STU v Bratislave FEI,
    2020
    FEI ; Dátum obhajoby : 01.07.2020 ; Študijný odbor : informatika ; Študijný program : B-API . - 48 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=201CE56335A527AB050391791929&seo=CRZP-detail-kniha
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  4. Deriving the exchange times for a model of trap-assisted tunnelling / aut. Juraj Racko, Miroslav Mikolášek, Magdaléna Kadlečíková, Aleš Chvála
    Racko Juraj  Mikolášek Miroslav ; 033000 Kadlečíková Magdaléna ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
    Journal of Electrical Engineering : . Vol. 71, No. 1 (2020), s. 31-36
    trap-assisted tunnelling capture and emission probability exchange times
    https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/1/article-p31.xml?language=de
    článok z periodika
    ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    článok

    článok

  5. Low-leakage ESD structures in 130nm CMOS technology / aut. Lukáš Nagy, Aleš Chvála, Viera Stopjaková
    Nagy Lukáš ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000
    Radioelektronika 2020 : . S. 177-180
    low-power Low-Voltage Negative Voltage ESD TCAD simulation ESD VerilogA Model
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  6. AlGaN/GaN HEMT channel temperature determination utilizing external heater / aut. Martin Florovič, Robert Szobolovszký, Jaroslav jr Kováč, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Jean-Claude Jacquet, Sylvain Laurent Delage
    Florovič Martin ; 033000  Szobolovszký Robert Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Jacquet Jean-Claude Delage Sylvain Laurent
    Semiconductor Science and Technology . Vol. 35, No. 2 (2020), Art. no. 025006 [6] s.
    dissipated power temperature profile HEMT FET GaN AlGaN
    https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab5d85
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    (1) - článok
    článok

    článok

  7. Semi-insulating GaN for vertical structures: role of substrate selection and growth pressure / aut. Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Roman Stoklas, Juraj Priesol, Edmund Dobročka, Štefan Haščík, Filip Gucmann, Andrej Vincze, Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka, Ján Kuzmík
    Šichman Peter  Hasenöhrl Stanislav Stoklas Roman Priesol Juraj ; 033000 Dobročka Edmund Haščík Štefan Gucmann Filip Vincze Andrej Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján
    Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 118, (2020), Art. no. 105203 [5] s.
    GaN Vertical transistor Semi-insulating
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800120307344
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  8. Design of test equipment for on-die hard switching and dynamic on-resistance measurement of GaN HEMTs / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Tomáš Debnár, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Daniel Donoval
    Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Debnár Tomáš ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
    Radioelektronika 2020 : . S. 201-204
    GaN HEMT dynamic resistance hard switching on-die measurement
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  9. Návrh a príprava automatizovaného testovacieho pracoviska pre elektrostatické (ESD) ochranné prvky
    Adamkovič Marek ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 (škol.)
    2019
    FEI ; Dátum obhajoby : 11.06.2019 ; Študijný odbor : 5.2.13. elektronika ; Študijný program : I-EN . - 60 s., CD-ROM

    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137474
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0100
    kniha

    kniha

  10. Electrothermal simulation of power multifinger HEMT / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Ľuboš Černaj, Patrik Príbytný, Jozef Kozárik, Alexander Šatka, Daniel Donoval
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Černaj Ľuboš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
    Advances in Microelectronics: Reviews : . S. 289-306
    kapitola(článok) z dokumentu
    AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch, monografiách
    článok

    článok