Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 256  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stu57774^"
  1. Simulation of electrical properties and reliability of power IGBT module / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
    Kovaľ František ; 030000  Chvála Aleš ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 73-76
    IGBT module reliability simulation
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  2. Electro-thermal simulation analysis and optimization of power IGBT under uis test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Patrik Príbytný, Daniel Donoval
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 141-144
    electro-thermal simulation power IGBT clip-bond wire-bond
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  3. Thermo-mechanical simulation study of power transistor embedded in PCB / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 157-160
    thermo-mechanical simulation embedded power transistor printed circuit board
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  4. Measurement of dynamic on-resistance of packaged and unpackaged GaN HEMTs and effect of repetitive short-circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Martin Donoval
    Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Donoval Martin ; 030690
    ADEPT 2022 : . S. 161-164
    GaN HEMT dynamic on-resistance on-die testing repetitive short-circuit
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  5. Electro-thermal characterizations, compact modeling and tcad based device simulations of power electronics modules / aut. Patrik Príbytný, Aleš Chvála, Juraj Marek, Daniel Donoval
    Príbytný Patrik ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 165-168
    3-D numerical modeling and simulation thermal management power and heat dissipation
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  6. Thermal resistance utilization as a key parameter for HEMT average temperature determination / aut. Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Jean-Claude Jacquet, Sylvain Laurent Delage
    Florovič Martin ; 033000  Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Jacquet Jean-Claude Delage Sylvain Laurent
    ADEPT 2022 : . S. 246-249
    HEMT AlGaN/GaN I-V characteristics thermal resistance channel temperature
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  7. CAE elektronických prvkov : 2/3-D numerické simulácie - Návody na cvičenia / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Daniel Donoval; rec. Milan Ťapajna, Martin Weis elektronický zdroj
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Donoval Daniel ; 033000 Ťapajna Milan (rec.) Weis Martin ; 033000 (rec.)
    1. vyd.
    Bratislava : Spektrum STU, 2022 . - CD-ROM, 68 s.
    ISBN 978-80-227-5183-4
    elektronický textový údaj
    BCI - Skriptá a učebné texty
    P1 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako celok
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1100
    kniha

    kniha

  8. 3-D device electro-thermal simulation methodology for optimization of SiC power MOSFET under UIS test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
    ICSCRM 2022 : . S. 197-198
    článok zo zborníka
    BFA - Abstrakty odborných prác zo zahraničných podujatí (konferencie...)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  9. EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján Uherek František ; 033000
    WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 94-95
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  10. Electro-thermal simulation analysis and optimization of SiC Power MOSFET under UIS test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
    WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP102-OP103
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok