Výsledky vyhľadávania
- Determination of the Doping Concentration Profile in Si Delta-Doped GaAs Layers Using Micro-Raman Spectroscopy of Bevelled Structures
Srnánek Rudolf ; E030 Geurts J. Lentze M. Irmer G. Kováč Jaroslav ; E030 Donoval Daniel ; E030 McPhail David S. Kordoš Peter ; E030 Florovič Martin ; E030 Vincze Andrej ; E030 Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek
Thin Solid Films . Vol. 497 (2006), s.7-15
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Micro-Raman Study of Photoexcited Plasma in GaAs Bevelled Structures
Srnánek Rudolf ; E030 Irmer G. Geurts J. Lentze M. Donoval Daniel ; E030 Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek Florovič Martin ; E030 Novotný Ivan ; E030
Applied Surface Science . Vol. 243 (2005), s.s. 96-105
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - A Raman Method for Characterization of Semiconductor Nano-Structures: Si delta-Doped GaAs Layers
Srnánek Rudolf ; E030 Geurts J. McPhail David S. Kováč Jaroslav ; E030 Irmer G. Donoval Daniel ; E030 Kordoš Peter ; E030 Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek Vincze Andrej ; E030 Florovič Martin ; E030 Richardson G. Zalusky R. Lentze M.
APCOM 2005. Applied Physics of Condensed Matter : . s.179-182
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Diagnostics of InxGa1-xAs/GaAs Quantum Wells by Micro-Photoluminescence
Florovič Martin ; E030 Srnánek Rudolf ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Geurts J. Lentze M. Irmer G. Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek
APCOM 2004. Applied Physics of Condensed Matter : . s.66-69
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Diagnostics of Zn-Delta Doped GaAs Layers by Micro-Photoluminescence, Micro-Raman Spectroscopy and ECV Method
Srnánek Rudolf ; E030 Kinder Rudolf ; E030 Florovič Martin ; E030 Irmer G. Prunici P. Geurts J. Lentze M. Sciana Beata Korecká Eva ; E210 Novotný Ivan ; E030 Radziewicz Damian Tlaczala Marek
EDS´04. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2004 : . s.269-272
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Characterization of Si Delta-Doped AlGaAs/GaAs Quantum-Well by Optical Methods on Bevelled Structures
Srnánek Rudolf ; E030 Peternai Loránt ; E210 Kováč Jaroslav ; E030 Florovič Martin ; E030 Geurts J. Lentze M. Irmer G. Fürster A. Kordoš Pavol
WOCSDICE 2004. The 28th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held i Europe : . s.139-140
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Study of Delta-doped GaAs Layers by Micro-Raman Spectroscopy on Bevelled Samples
Srnánek Rudolf ; E030 Geurts J. Lentze M. Irmer G. Donoval Daniel ; E030 Brdečka P. ; E210 Kordoš Peter ; E030 Fürster A. Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek
Applied Surface Science . Vol. 230 (2004), s.379-385
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Determination of Doping Profile in Delta-Doped Layers by Micor-Raman Spectroscopy on Bevelled Samples
Srnánek Rudolf ; E030 Lentze M. Geurts J. Kordoš Pavol Fürster A. Sciana Beata Radziewicz Damian Tlaczala Marek
Verhandlungen der deutschen Physikalischen Gesellschaft : . s.205
článok zo zborníka
AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka