Výsledky vyhľadávania
- Design and test technology for dependable systems-on-chip / ed. Raimund Ubar ; ed. Jaann Raik, Theodor Heinrich Vierhaus
Ubar Raimund (ed.) Raik Jaann (ed.) Vierhaus Theodor Heinrich (ed.)
1. vyd.
Hershey IGI Global 2011 . - 550 s.
ISBN 978-1-60960-212-3
monografia
(2) - článokFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FIIT 1 0 0 0 
kniha
- DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
7th IEEE Latin American Test Workshop : . s.74-79
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- DefSim-Based Exercises for Studying in CMOS Gates
Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
EWME 2006. Proceedings. 6th European Workshop on Microelectronics Education : . s.23-26
článok zo zborníka
(2) - článokčlánok
- DefSim: Measurement environment for CMOS defects
Borejko T. Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
International Conference on Microelectronics. IMC 2006 : . s.679-682
článok zo zborníkačlánok
- CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
ETS '06 : . s.241-246
článok z periodika
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Handbook of Testing electronic Systems / Aut.: Novák O. a i.
Novák Ondřej Gramatová Elena ; 070400 Ubar Raimund Stopjaková Viera ; E030 Drábek Vladimír
Praha : České vysoké učení technické v Praze, 2005 . - 395 s
ISBN 80-01-03318-X
elektronické systémy testovanie
monografia
ACA - Vysokoškolské učebnice vydané v zahraničných vydavateľstvách
P1 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako celok
(4) - článokFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FIIT 1 0 0 0 kniha
- Defects, faults, fault models
Gramatová Elena ; I100 Ubar Raimund Pleskacz Witold Fischerová Mária
Handbook of Testing electronic Systems / . s.26-96
elektronický obvod defekty porucha generovanie testov testovateľnosť
kapitola(článok) z dokumentu
ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstvách
P2 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako časť učebnice alebo skriptačlánok
- Test generation techniques and algorithms / aut. Raimund Ubar, Elena Gramatová, Mária Fischerová
Ubar Raimund Gramatová Elena ; 070100 Fischerová Mária
Handbook of Testing electronic Systems / . S. 97-173
kapitola(článok) z dokumentu
ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstváchčlánok
- Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Cibáková T. Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
defekty digitálny obvod generovanie testov
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisochčlánok
- Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk M. Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok