Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 246  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stu65038^"
  1. Electrically Active Defects in InAlGaN/GaN HEMT structures / aut. Matej Matuš, Jakub Drobný, Martin Florovič, Juraj Marek, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Matuš Matej ; 033000  Drobný Jakub Florovič Martin ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    WOCSDICE‐EXMATEC 2023 : . S. 21-22
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  2. Electrically Active Defects in Power SiC-MOSFET Before and After Applied Electrical Stress / aut. Viktor Malík, Matej Matuš, Aleš Chvála, Juraj Marek, Vincenzo Vinciguerra, Angelo Alberto Messina ; zost. Ľubica Stuchlíková
    Málik Viktor ; 030000  Matuš Matej ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Vinciguerra Vincenzo Messina Angelo Alberto Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2023 : . S. 169-172
    defects SiC MOSFET Deep-Level Transient Spectroscopy
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  3. Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
    Špánik Patrik Ján ; 033000  Marek Juraj ; 033000 (škol.)
    2023
    FEI ; 06.06.2023 ; elektrotechnika ; I-EN

    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=170688
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  4. Characterization of Electrical Properties of Power SiC Schottky Diodes / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Ľubica Stuchlíková, Matej Matuš, Vincenzo Vinciguerra, Angelo Alberto Messina
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Vinciguerra Vincenzo Messina Angelo Alberto
    WOCSDICE‐EXMATEC 2023 : . S. 78-79
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  5. Electro-Thermo-Mechanical Simulation of Power Transistor Embedded in PCB / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka, J Chen
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chen Jue
    ADEPT 2023 : . S. 59-62
    electro-thermo-mechanical simulation embedded power transistor printed circuit board
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  6. Electro-thermal characterizations of contacts and TCAD based device simulations of power electronics modules / aut. Patrik Príbytný, Aleš Chvála, Juraj Marek, Daniel Donoval
    Príbytný Patrik ; 033000  Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
    ADEPT 2023 : . S. 214-216
    3-D numerical modeling thermal management power and heat dissipation
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  7. Design of Power Transistor Embedded in PCB Supported by 3D Simulations / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka, Jue Chen
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chen Jue
    InterPACK 2023 : . Art. no. V001T07A002 [6] s.
    electro-thermo-mechanical simulation embedded power transistor printed circuit board
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  8. 3D Thermal Simulation of GaAs-Based HEMT on Foreign Substrates / aut. Aleš Chvála, Jaroslav jr Kováč, Dagmar Gregušová, Milan Ťapajna, Filip Gucmann, Juraj Marek, Martin Florovič
    Chvála Aleš ; 033000  Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Gregušová Dagmar Ťapajna Milan Gucmann Filip Marek Juraj ; 033000 Florovič Martin ; 033000
    MicDAT 2023 : . S. 20-23
    High electron mobility transistor GaAs nanomembranes Epitaxial lift-off technique 3D thermal simulation GaAs Al2O3 Si SiC diamond substrates
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  9. Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
    Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
    FEI ; 25.08.2023 ; elektrotechnika ; D-EF . - 117 s., Autoref. 2023, 54 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGQR6Q&sid=4B1C4D75B6D4960DFBA601FA792C&seo=CRZP-detail-kniha
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    kniha

    kniha

  10. SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
    charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
    https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.