Výsledky vyhľadávania
- An Automatic Measurement System with Spreading Resistance and PCIV Profiling for Characterization of Semiconductors
Kinder Rudolf ; E030 Hulényi Ladislav ; E210 Hudec Ladislav ; 070400 Chmel T. Kuruc Marián
Journal of Electrical Engineering . Vol. 58, No. 3 (2007), s.165-168
rozložená rezistencia PCIV SUPREM Si
článok z periodika
ADF - 12/Vedecké práce v domácich nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
článok
- An Automatic Measurement System with PCIV Profiling for Characterization of Semiconductors
Kinder Rudolf ; E030 Hulényi Ladislav ; E210 Hudec Ladislav ; I300 Chmel T. Kuruc Marián
EDS´06. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2006 : . s.131-134
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok