Výsledky vyhľadávania

  1. AnaDig - An Educational Chip for VLSI Device Characterization
    Piwowarska E.  Kuzmicz W. Farkas G. Weber Bedřich ; E030 Butaš Ján ; E210 et al.
    Microelectronic Systems Education : . s.19-20
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  2. Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
    Cibáková T.  Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
    defekty digitálny obvod generovanie testov
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  3. Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
    Blyzniuk M.  Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
    digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok