Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 3  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stu77627^"
  1. A Combined X-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C Films
    Flesch G.H.  Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
    Physica Status Solidi (A)-Applications and Materials Science . Vol. 206 (2009), s.1727-1730
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  2. A Combined x-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C-Films
    Flesch G.H.  Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
    XTOP 2008 : . s.174
    článok zo zborníka
    AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  3. Polymer Thin Film Characterization: A Combined Approach by X-Ray Reflectivity and Spectroscopis Ellipsometry
    Flesch G.H.  Werzer Oliver Frank P. Blümel A. Kováč Jaroslav ; E030 Jakabovič Ján ; E030 Jakopic G. Resel Roland
    Winterschool on Organic Electronics. The Role of Interfaces : . s.CD-Rom
    článok zo zborníka
    AFK - Postery zo zahraničných konferencií
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.