Výsledky vyhľadávania
- A Combined X-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C Films
Flesch G.H. Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
Physica Status Solidi (A)-Applications and Materials Science . Vol. 206 (2009), s.1727-1730
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - A Combined x-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C-Films
Flesch G.H. Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
XTOP 2008 : . s.174
článok zo zborníka
AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Polymer Thin Film Characterization: A Combined Approach by X-Ray Reflectivity and Spectroscopis Ellipsometry
Flesch G.H. Werzer Oliver Frank P. Blümel A. Kováč Jaroslav ; E030 Jakabovič Ján ; E030 Jakopic G. Resel Roland
Winterschool on Organic Electronics. The Role of Interfaces : . s.CD-Rom
článok zo zborníka
AFK - Postery zo zahraničných konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka