Výsledky vyhľadávania
- Theoretical and Practical Aspects of IDDQ Setting - Impact on Measurement Timing and Quality
Straka B. Manhaeve Hans Brenkuš Juraj ; E030 Kerckenaere S.
DATE'08. Design, Automation and Test in Europe : . s.DVD-Rom
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Test Requirements for Today´s and Future Circuits: A Perspective
Manhaeve Hans
ECS´05. 5th Electronic circuits and systems conference. Proceedings : . s.1-9
článok zo zborníka
(3) - článokčlánok
- Implementation of a Dynamic Current Monitoring Unit in Embedded Low-Voltage Circuit Test
Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans
DDECS 2000 : . s.81-86
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- DDECS 2000 : 3rd International Workshop: Design and diagnostics of electronic circuits and systems; Proceedings; Smolenice castle, Slovakia. 5.- 7. Apr. 2000
Gramatová Elena (ed.) ; I100 Fischerová Mária (ed.) Manhaeve Hans (ed.) Pawlak Adam (ed.)
Bratislava : Ústav informatiky SAV, 2000 . - 268 s
ISBN 80-968320-3-4
počítačové systémy elektronické obvody technická diagnostika odolnosť proti poruchám FTC testovanie obvodov navrhovanie obvodov
zborník (príspevkov)
(2) - článokFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FIIT 3 0 0 0 
kniha
- On-chip Transient Current Monitor for Testing of Low-Voltage CMOS IC
Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans Sidiropulos Michalis
DATE 1999. Design, Automation and Test in Europe . s.538-542
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- An Analog Self-Test Based on Differential I-DD Monitoring Supported by Differential I-OUT Checking
Sidiropulos Michalis Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans Musil V
Analog Integrated Circuits and Signal Processing . Vol. 21, Iss. 1 (1999), s.33-44
článok z periodikačlánok
- Built-in Dynamic Current Sensor for Mixed-Signal Test
Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans
EDS´98. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference : . s.213-216
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- CCII+ Current Conveyor Based BIC Monitor for IDDQ Testing of Complex CMOS Circuits
Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans
European design & test conference : . , s.266-270
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Implementation of BIC monitor in balanced analogue self-test
Sidiropulos Michalis Stopjaková Viera ; E030 Manhaeve Hans
Electronics Letters . Vol. 32 (1996), s.1841-1842
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Implementation of a BIC monitor in a new analog BIST structure / aut. Michalis Sidiropulos, Viera Stopjaková, Hans Manhaeve
Sidiropulos Michalis Stopjaková Viera ; 033000 Manhaeve Hans
IEEE International Workshop on IDDQ Testing. Digest of papers . S. 59-63
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok