Stress development in sputtered NiO thin films during heat treatment
Brückner W.Kaltofen R.Thomas J.et al.
Journal of Applied Physics
. Vol. 94 (2003), s.Iss.8, p.4853-4858Iss.8
článok z periodika
(1) - článok
Citácie
článok
Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom
ako používame cookies.