Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 86  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stu80446^"
  1. Automatic detection and counting of defects from cathodoluminescence maps of GaN layers / aut. Juraj Priesol, David Gellen, Alexander Šatka
    Priesol Juraj ; 033000  Gellen David ; 030000 Šatka Alexander ; 033000
    MECO 2023 : . [4] s.
    object detection object counting 2D FFT segmentation CLAHE watershed Cathodoluminescence GaN quality assessment reliability
    https://ieeexplore.ieee.org/document/10155031
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  2. Thermal stability of rhombohedral α- and monoclinic β-Ga2O3 grown on sapphire by liquid-injection MOCVD / aut. Filip Gucmann, Peter Nádaždy, Kristína Hušeková, Edmund Dobročka, Juraj Priesol, Fridrich Egyenes, Alexander Šatka, Alica Rosová, Milan Ťapajna
    Gucmann Filip  Nádaždy Peter Hušeková Kristína Dobročka Edmund Priesol Juraj ; 033000 Egyenes Fridrich Šatka Alexander ; 033000 Rosová Alica Ťapajna Milan
    Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 156, (2023), Art. no. 107289 [9] s.
    Ga2O3 Gallium oxide thermal stability MOCVD degradation
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800122008162
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  3. EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján Uherek František ; 033000
    WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 94-95
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  4. Cross-sectional SEM-EBIC analysis of semi-vertical GaN power diodes / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Matteo Borga, A Minj, Benoit Bakeroot, Karen Geens
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Borga Matteo Minj A. Bakeroot Benoit Geens Karen
    ASDAM 2022 : . S. 83-87
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9966747
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  5. On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Daniel Haško, František Uherek
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Haško Daniel Uherek František ; 033000
    Fotonika 2022 : . S. 37-40
    Cross-section mechanical polishing nano-polishing grinding vertical GaN EBIC
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  6. Charakterizácia poly-AlN podložiek metódami rastrovacej elektrónovej mikroskopie / aut. Alexander Šatka, Juraj Priesol, Andrej Vincze
    Šatka Alexander ; 033000  Priesol Juraj ; 033000 Vincze Andrej
    Fotonika 2022 : . S. 41-44
    poly-AlN širokopásmový polovodič katódoluminiscencia rastrovacia elektrónová mikroskopia energetická disperzná röntgenová spektroskopia
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  7. Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
    IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
    AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  8. Detekcia a počítanie porúch z panchromatických katódoluminiscenčných máp
    Gellen David ; 033000  Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
    FEI ; 01.07.2021 ; informatika ; B-API . - 56 s., príl.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC1F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  9. Program na záznam a spracovanie obrazu z optického mikroskopu v prostredí NI LabVIEW
    Glváč Roman ; 033000  Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
    FEI ; 01.07.2021 ; informatika ; B-API . - 48 s., príl.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC0F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  10. Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Karen Geens
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Geens Karen
    SURFINT - SREN VII : . S. 49-50
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.