Výsledky vyhľadávania
- Investigating the effect of off-state stress on trap densities in AlGaN/GaN high electron mobility transistors
Liu L. Ren F. Pearton Stephen J. et al.
Journal of Vacuum Science and Technology B . Vol. 29, No. 6 (2011), s.Art.No.3660396
článok z periodika
(2) - článok - Zinc Oxide Bulk, Thin Films and Nanostructures : Processing, Properties and Applications / Ed.: Jagadish, Ch., Pearton, S.J.
Jagadish Chennupati (ed.) Pearton Stephen J. (ed.)
Oxford : Elsevier, 2006 . - 589 s
ISBN 0-0804-4722-8
nanoštruktúry molekulárne vlastnosti tenké vrstvy oxid zinka
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1