Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 367  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stu9834^"

  1. 1.Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique

    Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
    IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
    AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  2. 2.Snímanie a rekonštrukcia obrazov trojrozmerných objektov

    Snímanie a rekonštrukcia obrazov trojrozmerných objektov
    Bittner Radovan ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 (škol.)
    Bratislava :
    STU v Bratislave FEI,
    2021
    FEI ; Dátum obhajoby : 30.06.2021 ; Študijný odbor : informatika ; Študijný program : B-API . - 78 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F29BFC1F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  3. 3.Snímanie a predspracovanie optických difrakčných obrazov

    Snímanie a predspracovanie optických difrakčných obrazov
    Balaščík Samuel ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 (škol.)
    Bratislava :
    STU v Bratislave FEI,
    2021
    FEI ; Dátum obhajoby : 30.06.2021 ; Študijný odbor : informatika ; Študijný program : B-API . - 54 s.

    https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2ABCC5F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
    bakalárska práca
    kniha

    kniha

  4. 4.Analysis and modeling of vertical current conduction and breakdown mechanisms in semi-insulating GaN grown on GaN: Role of deep levels

    Analysis and modeling of vertical current conduction and breakdown mechanisms in semi-insulating GaN grown on GaN: Role of deep levels / aut. Roman Stoklas, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Štefan Haščík, Juraj Priesol, Alexander Šatka, Ján Kuzmík
    Stoklas Roman  Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Haščík Štefan Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján
    IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 5 (2021), s. 2365-2371
    Carrier compensation electrical breakdown Semi-insulating simulation space-charge-limited current Vertical transistor
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9384237
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  5. 5.Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method

    Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Karen Geens
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Geens Karen
    SURFINT - SREN VII : . S. 49-50
    článok zo zborníka
    AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
    článok

    článok

  6. 6.Investigation of semi-vertical GaN FET structures using EBIC method

    Investigation of semi-vertical GaN FET structures using EBIC method / aut. Alexander Šatka, Juraj Priesol, Shuzhen You, Karen Geens, Stefaan Decoutere
    Šatka Alexander ; 033000  Priesol Juraj ; 033000 You Shuzhen Geens Karen Decoutere Stefaan
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 92-93
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  7. 7.Characterization of In-rich InAlN layers by panchromatic and spectrally resolved cathodoluminescence

    Characterization of In-rich InAlN layers by panchromatic and spectrally resolved cathodoluminescence / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Ján Kuzmík, Stanislav Hasenöhrl, Prerna Chauhan, František Uherek, Daniel Haško
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján Hasenöhrl Stanislav Chauhan Prerna Uherek František ; 033000 Haško Daniel
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 76-77
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  8. 8.Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM

    Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Uherek František ; 033000 Haško Daniel Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján
    Fotonika 2020 : . S. 11-14
    vertikálny GaN tranzistor rastrovacia elektrónová mikroskopia katódoluminiscencia
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  9. 9.Detection of pollutants in the grease of a bearing by EDS and SEM: A case study

    Detection of pollutants in the grease of a bearing by EDS and SEM: A case study / aut. Magdaléna Kadlečíková, Alexander Šatka, Juraj Breza
    Kadlečíková Magdaléna ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Breza Juraj ; 033000
    ElectroScope [elektronický zdroj] : . Roč. 2020, č. 1 (2020), [4] s.
    http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2020/Cislo1_2020/r14c1c6.pdf
    článok z periodika
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  10. 10.Diagnostika materiálov a štruktúr metódami rastrovacej a interferenčnej mikroskopie

    Diagnostika materiálov a štruktúr metódami rastrovacej a interferenčnej mikroskopie / aut. Daniel Haško, Juraj Priesol, Jozef Chovan ; ed. Alexander Šatka
    Haško Daniel  Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 Chovan Jozef
    Fotonika 2020 : . S. 30-33
    mikroskopické metódy diagnostika povrchov nové materiály a štruktúry
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok