Výsledky vyhľadávania

  1. Automatický generátor funkčných testov procesorov
    Ignačák Miroslav ; I100  Hudec Ján (škol.) ; I100
    Bratislava : STU v Bratislave FIIT, 2014
    FIIT ; Dátum obhajoby : 12.06.2014 ; Študijný program : 662 . - 54 s príl.
    počítačové a komunikačné systémy a siete Computer and Communication Systems and Networks genetic algorithm SBST generovanie testov genetický algoritmus
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=101002
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FIIT1000
    kniha

    kniha

  2. Príspevok k metódam a algoritmom automatického generovania funkčných testov procesorov
    Hudec Ján ; I100  Gramatová Elena (škol.) ; I100
    Bratislava : STU v Bratislave FIIT, 2014
    genetic algorithm verification testing test generation genetický algoritmus generovanie testov verifikácia testovanie
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=77272
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    kniha

    kniha

  3. Generovanie otázok pre online skúškový systém
    Celláryová Michaela  Vaský Jozef (škol.) ; M6000
    Trnava : STU v Bratislave MTF UIAM, 2013
    MTF ;
    generovanie otázok tvorba testov generovanie testov
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=103388
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    MTF0001
    kniha

    kniha

  4. Some results in automatic functional test design for processors
    Hudec Ján ; I100 
    Lecture Notes in Electrical Engineering : . Vol. 151 Emerging Trends in Computing, Informatics, Systems Sciences, and Engineering (2013), s. 965-972
    generovanie testov simulácia a verifikácia testov funkčný test procesora
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  5. Generovanie písomných testov = Generating of written tests : Diplomová práca
    Kecskés Róbert  Moravčík Oliver (xxx) ; M6000
    Trnava : STU v Bratislave MtF KAIA, 2007
    MTF ; . - 70 s príl (1 CD-ROM)
    generovanie testov
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    MTF0001
    kniha

    kniha

  6. Defects, faults, fault models
    Gramatová Elena ; I100  Ubar Raimund Pleskacz Witold Fischerová Mária
    Handbook of Testing electronic Systems / . s.26-96
    elektronický obvod defekty porucha generovanie testov testovateľnosť
    kapitola(článok) z dokumentu
    ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstvách
    článok

    článok

  7. Internet-based collaborative test generation with MOSCITO
    Schneider A.  Ivask E. Mikloš Peter Raik J. Diener K.-H Ubar R. Cibáková T. Gramatová Elena ; 070400
    DATE'02 : . s.221-226
    digitálny obvod generovanie testov internetové technológie
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  8. Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
    Cibáková T.  Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
    defekty digitálny obvod generovanie testov
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  9. Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
    Blyzniuk M.  Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
    digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok