Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 16  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stus2706^"
  1. Radiačná odolnosť MOS štruktúr ožiarených 130MeV ťažkými iónmi Xe
    Muránsky Viktor ; E  Žiška Milan (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 40 s
    elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry tepelné spracovanie
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  2. Aplikácia Al2O3 dielektrických vrstviev v technológii tranzistorov a heteropriechodom na báze InAlN/GaN : č.ved.odb.: 26-13-9, dát. obhaj. 1.2.2010
    Čičo Karol  Kuzmík Ján (škol.)
    Bratislava : Elektrotechnický ústav SAV, 2009 . - 107 s
    MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín tranzistory
    dizertačná práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  3. Izolačné vlastnosti a prieraz hradlového oxidu štruktúry MOS : Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9
    Valent Peter ; E210  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 94 s
    elektronika izolačné vlastnosti MOS štruktúry prierazné napätie
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  4. Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku
    Nemec Michal ; E030  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 52 s
    elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  5. Diagnostika kvality polovodičových štruktúr a prvkov
    Šramatý Roman ; E210  Stuchlíková Ľubica (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 46 s
    elektronika Mikroelektronika polovodičové štruktúry fyzika polovodičov MOS štruktúry
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  6. Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
    Veľas Jozef ; E  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 42 s
    elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry CMOS
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  7. Výskum vlastností materiálov pre pokročilé MOS štruktúry : č.ved.odb. 26-35-9, dát.obhaj. 18.12.2008
    Lupták Roman  Fröhlich Karol (škol.)
    Bratislava : Elektrotechnický ústav SAV, 2008 . - 119 s
    elektrotechnológie a materiály MOS štruktúry
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  8. Charakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
    Ťapajna Milan ; E210  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007 . - 130 s
    elektronika CMOS MOS štruktúry elektrofyzikálne vlastnosti
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  9. Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou
    Kmeť Adam  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030 Kováč Peter (škol.)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
    FEI ; . - 50 s
    Mikroelektronika MOS štruktúry elektrofyzikálne vlastnosti izolačné vrstvy
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  10. Analýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou
    Vernarský Vladimír  Ťapajna Milan (škol.) ; E210 Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
    FEI ; . - 42 s
    Mikroelektronika MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín
    diplomová práca
    kniha

    kniha


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.