Výsledky vyhľadávania
- Comprehensive degradation analysis of NCA Li-Ion batteries via methods of electrochemical characterisation for various stress-inducing scenarios / aut. Martin Kemény, Peter Ondrejka, Miroslav Mikolášek
Kemény Martin ; 033000 Ondrejka Peter ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000
Batteries . Vol. 9, Iss.1 (2023), Art. no. 33 [22] s.
Li-ion battery NCA degradation EIS ICA GITT
https://www.mdpi.com/2313-0105/9/1/33
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Thermal stability of rhombohedral α- and monoclinic β-Ga2O3 grown on sapphire by liquid-injection MOCVD / aut. Filip Gucmann, Peter Nádaždy, Kristína Hušeková, Edmund Dobročka, Juraj Priesol, Fridrich Egyenes, Alexander Šatka, Alica Rosová, Milan Ťapajna
Gucmann Filip Nádaždy Peter Hušeková Kristína Dobročka Edmund Priesol Juraj ; 033000 Egyenes Fridrich Šatka Alexander ; 033000 Rosová Alica Ťapajna Milan
Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 156, (2023), Art. no. 107289 [9] s.
Ga2O3 Gallium oxide thermal stability MOCVD degradation
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800122008162
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Influence of germicidal UV radiation on polymers and composites / aut. Peter Godovčin, Alica Pastierová
Godovčin Peter ; 065000 Pastierová Alica ; 065000
International Doctoral Seminar 2022 : . S. 73-79
ultraviolet germicidal degradation polymers
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - The influence of repetitive UIS on electrical properties of advanced automotive power transistors / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 20, No. 1 (2022), s. 86-94
degradation DLTS repetitive avalanching repetitive unclamped inductive switching TCAD
http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/4120
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Ferrate (VI), Fenton Reaction and Its Modification: An Effective Method of Removing SARS-CoV-2 RNA from Hospital Wastewater / aut. Dušan Žabka, Barbora Konečná, Peter Celec, Monika Janíková, Nadja Ivašková, Ľubomíra Tóthová, Michal Tamáš, Andrea Butor Škulcová, Noemi Púček Belišová, Ivana Horáková, Paula Bimová, Ján Híveš, Jozef Ryba, Boris Klempa, Monika Sláviková, Juraj Kopáček, Ján Krahulec, Miroslav Gál, Tomáš Mackuľak
Žabka Dušan ; 046290 Konečná Barbora Celec Peter Janíková Monika Ivašková Nadja Tóthová Ľubomíra Tamáš Michal ; 046290 Butor Škulcová Andrea ; 046290 Púček Belišová Noemi ; 046290 Horáková Ivana ; 046290 Bimová Paula ; 042120 Híveš Ján ; 042120 Ryba Jozef ; 049170 Klempa Boris Sláviková Monika Kopáček Juraj Krahulec Ján Gál Miroslav ; 042120 Mackuľak Tomáš ; 046290
Pathogens . Vol. 11, iss. 4 (2022), s. [1-13], art. no. 450
Fenton-like reaction Ferrate(VI) hospital wastewater RNA SARS-CoV-2 degradation
https://www.mdpi.com/2076-0817/11/4/450
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 205-208
reliability degradation IGBT repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - The role of intense rainfall events on the land degradation processes in the Slovak and Polish catchments
Sabová Zuzana ; 010160 Tomaščík Matúš ; 010160 Németová Zuzana ; 010160 Kohnová Silvia ; 010160 Krajewski Adam Banasik Kazimierz
Abstracts and Presentation EGU General Assembly 2022 (EGU22) : . online, [1] s., art. no. EGU22-2306
intense rainfall degradation erosion model CLM
https://meetingorganizer.copernicus.org/EGU22/EGU22-2306.html
z elektronických zdrojov
GHG - Práce zverejnené na internete
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka - Analyzing of relationship between rainfall events and degradation processes, case study : Zagozdonka catchment, Poland
Németová Zuzana ; 010160 Kohnová Silvia ; 010160
Transport of water, chemicals and energy in the soil-plant-atmosphere system in conditions of the climate variability : . online, s. 10
degradation mathematical model rainfall-runoff events
článok zo zborníka
AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Degradation of 600V GaN HEMT with p-GaN gate under repetitive short circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Miroslav Jagelka, Martin Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 219-222
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka