Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 64  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stus30312^"
  1. Comprehensive degradation analysis of NCA Li-Ion batteries via methods of electrochemical characterisation for various stress-inducing scenarios / aut. Martin Kemény, Peter Ondrejka, Miroslav Mikolášek
    Kemény Martin ; 033000  Ondrejka Peter ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000
    Batteries . Vol. 9, Iss.1 (2023), Art. no. 33 [22] s.
    Li-ion battery NCA degradation EIS ICA GITT
    https://www.mdpi.com/2313-0105/9/1/33
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  2. Thermal stability of rhombohedral α- and monoclinic β-Ga2O3 grown on sapphire by liquid-injection MOCVD / aut. Filip Gucmann, Peter Nádaždy, Kristína Hušeková, Edmund Dobročka, Juraj Priesol, Fridrich Egyenes, Alexander Šatka, Alica Rosová, Milan Ťapajna
    Gucmann Filip  Nádaždy Peter Hušeková Kristína Dobročka Edmund Priesol Juraj ; 033000 Egyenes Fridrich Šatka Alexander ; 033000 Rosová Alica Ťapajna Milan
    Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 156, (2023), Art. no. 107289 [9] s.
    Ga2O3 Gallium oxide thermal stability MOCVD degradation
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800122008162
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  3. Influence of germicidal UV radiation on polymers and composites / aut. Peter Godovčin, Alica Pastierová
    Godovčin Peter ; 065000  Pastierová Alica ; 065000
    International Doctoral Seminar 2022 : . S. 73-79
    ultraviolet germicidal degradation polymers
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  4. The influence of repetitive UIS on electrical properties of advanced automotive power transistors / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 20, No. 1 (2022), s. 86-94
    degradation DLTS repetitive avalanching repetitive unclamped inductive switching TCAD
    http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/4120
    článok z periodika
    ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  5. Ferrate (VI), Fenton Reaction and Its Modification: An Effective Method of Removing SARS-CoV-2 RNA from Hospital Wastewater / aut. Dušan Žabka, Barbora Konečná, Peter Celec, Monika Janíková, Nadja Ivašková, Ľubomíra Tóthová, Michal Tamáš, Andrea Butor Škulcová, Noemi Púček Belišová, Ivana Horáková, Paula Bimová, Ján Híveš, Jozef Ryba, Boris Klempa, Monika Sláviková, Juraj Kopáček, Ján Krahulec, Miroslav Gál, Tomáš Mackuľak
    Žabka Dušan ; 046290  Konečná Barbora Celec Peter Janíková Monika Ivašková Nadja Tóthová Ľubomíra Tamáš Michal ; 046290 Butor Škulcová Andrea ; 046290 Púček Belišová Noemi ; 046290 Horáková Ivana ; 046290 Bimová Paula ; 042120 Híveš Ján ; 042120 Ryba Jozef ; 049170 Klempa Boris Sláviková Monika Kopáček Juraj Krahulec Ján Gál Miroslav ; 042120 Mackuľak Tomáš ; 046290
    Pathogens . Vol. 11, iss. 4 (2022), s. [1-13], art. no. 450
    Fenton-like reaction Ferrate(VI) hospital wastewater RNA SARS-CoV-2 degradation
    https://www.mdpi.com/2076-0817/11/4/450
    článok z periodika
    ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  6. Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
    Marek Juraj ; 033000  Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 205-208
    reliability degradation IGBT repetitive short circuit
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  7. The role of intense rainfall events on the land degradation processes in the Slovak and Polish catchments
    Sabová Zuzana ; 010160  Tomaščík Matúš ; 010160 Németová Zuzana ; 010160 Kohnová Silvia ; 010160 Krajewski Adam Banasik Kazimierz
    Abstracts and Presentation EGU General Assembly 2022 (EGU22) : . online, [1] s., art. no. EGU22-2306
    intense rainfall degradation erosion model CLM
    https://meetingorganizer.copernicus.org/EGU22/EGU22-2306.html
    z elektronických zdrojov
    GHG - Práce zverejnené na internete
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

  8. Analyzing of relationship between rainfall events and degradation processes, case study : Zagozdonka catchment, Poland
    Németová Zuzana ; 010160  Kohnová Silvia ; 010160
    Transport of water, chemicals and energy in the soil-plant-atmosphere system in conditions of the climate variability : . online, s. 10
    degradation mathematical model rainfall-runoff events
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok

  9. Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
    Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
    Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
    charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
    https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  10. Degradation of 600V GaN HEMT with p-GaN gate under repetitive short circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Miroslav Jagelka, Martin Donoval
    Kozárik Jozef ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
    ADEPT 2021 : . S. 219-222
    GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.