Výsledky vyhľadávania

  1. Parametrizovaný výber kritických ciest v digitálnych systémoch
    Siebert Miroslav ; I100 
    Počítačové architektury a diagnostika 2014 : . online, s. 95-100
    digitálny obvod poruchy oneskorení
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  2. D&T Presenter - Electronic Interactive System for Design and Test Education
    Hlatký Matej ; 070400  Martinek Valter ; 070400 Gramatová Elena ; 070400
    2012
    DDECS 2012 : . 2012), s.175-178
    návrh testovanie digitálny obvod výučba elektronický prezentačný systém
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    (3) - článok
    článok

    článok

  3. Wrapper tool - learning and application of digital system testability to SoC cores
    Baláž Marcel  Bečková Jana Gramatová Elena ; I100
    SIBIRCON-2010 : . s.384-389
    digitálny obvod testovateľnosť systém na čipe
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  4. Internet-based collaborative test generation with MOSCITO
    Schneider A.  Ivask E. Mikloš Peter Raik J. Diener K.-H Ubar R. Cibáková T. Gramatová Elena ; 070400
    DATE'02 : . s.221-226
    digitálny obvod generovanie testov internetové technológie
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  5. Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
    Cibáková T.  Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
    defekty digitálny obvod generovanie testov
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  6. Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
    Blyzniuk M.  Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
    IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
    digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok