Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 11  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu = "^stu_us_auth stus45633^"
  1. Investigation of the Interface between Laser-Melted CoCr and a Stainless Steel Substrate
    Cosma Cosmin  Teusan Christina Gogola Peter ; 061000 Simion Mihaela Gabalcová Zuzana ; 061000 Trif Adrian Berce Petru Balc Nicolae
    Metals . Vol. 12, iss. 6 (2022), s. 1-16
    selective laser melting CoCr adhesion strength microhardness X-ray computed tomography Scanning electron microscopy
    https://www.mdpi.com/2075-4701/12/6/965
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  2. Analysis of the properties of electron beam welded joints of aluminium lithium alloy latest generation / aut. Miroslav Sahul, Martin Sahul, Ľubomír Čaplovič, Milan Marônek, Illia Klochkov, Sviatoslav Motrunich
    Sahul Miroslav ; 063700  Sahul Martin ; 061000 Čaplovič Ľubomír ; 061000 Marônek Milan ; 063100 Klochkov Illia Motrunich Sviatoslav
    The Paton Welding Journal . No. 5 (2021), s. 46-50
    AW2099 aluminium lithium alloy electron beam welding equiaxed zone scanning electron microscopy drop of microhardness
    https://patonpublishinghouse.com/eng/journals/tpwj/2021/05/07
    článok z periodika
    ADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  3. Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
    Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
    IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
    AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  4. Raman spectroscopy of porous silicon substrates / aut. Magdaléna Kadlečíková, Juraj Breza, Ľubomír Vančo, Miroslav Mikolášek, Michal Hubeňák, Juraj Racko, Ján Greguš
    Kadlečíková Magdaléna ; 033000  Breza Juraj ; 033000 Vančo Ľubomír ; 902640 Mikolášek Miroslav ; 033000 Hubeňák Michal Racko Juraj ; 033000 Greguš Ján
    Optik . Vol. 174, (2018), s. 347-353
    porous silicon Raman spectroscopy Scanning electron microscopy SEM
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030402618312336
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  5. Surface and electrochemical characterization of boron-doped diamond electrodes prepared under different conditions / aut. Renáta Šelešovská, Michaela Štěpánková, Lenka Janíková, Kateřina Nováková, Marian Vojs, Marián Marton, Miroslav Behúl
    Šelešovská Renáta  Štěpánková Michaela Janíková Lenka Nováková Kateřina Vojs Marian ; 033000 Marton Marián ; 033000 Behúl Miroslav ; 033000
    Monatshefte für Chemie - Chemical Monthly . Vol. 147, Iss. 8 (2016), s. 1353-1364
    boron-doped diamond electrode Scanning electron microscopy Raman spectroscopy Voltammetry Electrochemical Impedance Spectroscopy Linuron
    http://link.springer.com/article/10.1007/s00706-015-1640-3
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  6. Evaluation of structural isotropy of Cr-V ledeburitic steel made by powder metallurgy of rapidly solidified particles / aut. Matej Nemec, Peter Jurči, Petra Kosnáčová, Marta Kučerová
    Nemec Matej ; 061000  Jurči Peter ; 061000 Kosnáčová Petra Kučerová Marta ; 064000
    Kovové materiály. Metallic materials / . Vol. 54, iss. 6 (2016), s. 453-462
    isotropy of material electron microscopy Scanning electron microscopy
    http://www.kovmat.sav.sk/abstract.php?rr=54&cc=6&ss=453
    http://apps.webofknowledge.com/InboundService.do?SID=V1F3JCQo2heGLheqXeU&locale=en&action=retrieve&product=CCC&mode=FullRecord&viewType=fullRecord&UT=000390642600007&srcDesc=RET2TOC&returnLink=http%3A//toc.webofknowledge.com%3FSID%3DV1F3JCQo2heGLheqXeU%26sq%3D1%26locale%3Den%26recid%3D%26instid%3DKOVOVE%2BMATERIALY%2BMETALLIC%2BMATERIALS%26journal%3D2016,Vol.54,Iss.6%26issue_qid%3D1/1%26Func%3DBrowseToC
    článok z periodika
    ADD - Vedecké práce v domácich karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    (1) - článok
    článok

    článok

  7. Isothermal Section of the Al-Pd-Co Phase Diagram at 850 A degrees C Delimited by Homogeneity Ranges of Phases Epsilon, U, and F / aut. Ivona Černičková, Libor Ďuriška, Pavol Priputen, Dušan Janičkovič, Jozef Janovec
    Černičková Ivona ; 061000  Ďuriška Libor ; 061000 Priputen Pavol ; 061000 Janičkovič Dušan Janovec Jozef ; 902680
    Journal of Phase Equilibria and Diffusion . Vol. 37, iss. 3 (2016), s. 301-307
    Aluminium alloys intermetallics electron microscopy scanning electron microscopy
    http://download.springer.com/static/pdf/291/art%253A10.1007%252Fs11669-016-0456-0.pdf?originUrl=http%3A%2F%2Flink.springer.com%2Farticle%2F10.1007%2Fs11669-016-0456-0&token2=exp=1465547513~acl=%2Fstatic%2Fpdf%2F291%2Fart%25253A10.1007%25252Fs11669-016-0456-0.pdf%3ForiginUrl%3Dhttp%253A%252F%252Flink.springer.com%252Farticle%252F10.1007%252Fs11669-016-0456-0*~hmac=0ad9a361e6a650fe5192a0fdad9539138e1398906d3dd54fb57979edd989aa25
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok

  8. Aplikácia metódy Monte Carlo v rastrovacej elektrónovej mikroskopii GaN štruktúr : dát. obhaj. 20.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
    Priesol Juraj ; E030  Šatka Alexander (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2014 . - 97 s AUTOREF. 2014, 28 s.
    Mikroelektronika Microelectronics Scanning electron microscopy GaN
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=81827
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  9. Vývoj metodiky štandardizácie heterogénnych vzoriek pomocou energiovo a vlnovo disperznej analýzy
    Bíró Róbert  Nosko Martin (škol.)
    Trnava : STU v Bratislave MTF UMAT, 2013
    MTF ;
    Materials Engineering Scanning electron microscopy
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=79553
    diplomová práca
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    MTF0001
    kniha

    kniha

  10. Application of the van't Hoff dependences in the characterization of molecularly imprinted polymers for some phenolic acids
    Denderz Natalia ; C1180  Lehotay Jozef
    Journal of Chromatography A . Vol. 1268 (2012), s.44-52
    molecularly imprinted polymers Thermodynamic analysis Phenolic acids Attenuated total reflectance analysis Fourier transform infrared spectroscopy Scanning electron microscopy
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.