Výsledky vyhľadávania
- Elektrická charakterizácia MOS-HFET tranzistorov pripravených na základe GaN
Blaho Michal ; E Kováč Jaroslav (škol.) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2011 . - 50 s
Mikroelektronika Microelectronics meranie
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=71655
diplomová prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 
kniha